1）當截面輪廓對中測量

　　測量工件給定截面輪廓以確定對中量（CX、CY），（截面中心與平臺旋轉(zhuǎn)軸間的差異）。

　?、?按[CENTERING]鍵調(diào)出對中屏；

　　② 屏幕將顯示上一次對中條件，選擇并確定設定條件； 對中方法：對中（一個截面）。 測量工件不同對中條件也不同。 改變設定條件按[CHANGE]鍵。

　?、蹖⑻结樑c測量位置接觸。

　?、苄D(zhuǎn)平臺的同時，用探測筆進給手柄調(diào)整探測器位置，以使探針擺顯示處于表的靈敏范圍，放置微調(diào)盤進行微調(diào)后回零位。

　?、莅碵START]鍵，測量結(jié)束后自動計算對中量并自動顯示。

　　2）單一平面水平測量

　　測量工件給定平面以確定水平量（LX、LY），測量平面與平臺上表面間的傾斜。1）當截面輪廓對中測量

　　測量工件給定截面輪廓以確定對中量（CX、CY），（截面中心與平臺旋轉(zhuǎn)軸間的差異）。

　　① 按[CENTERING]鍵調(diào)出對中屏；

　?、?屏幕將顯示上一次對中條件，選擇并確定設定條件； 對中方法：對中（一個截面）。 測量工件不同對中條件也不同。 改變設定條件按[CHANGE]鍵。

　　③將探針與測量位置接觸。

　?、苄D(zhuǎn)平臺的同時，用探測筆進給手柄調(diào)整探測器位置，以使探針擺顯示處于表的靈敏范圍，放置微調(diào)盤進行微調(diào)后回零位。

　?、莅碵START]鍵，測量結(jié)束后自動計算對中量并自動顯示。

　　2）單一平面水平測量

　　測量工件給定平面以確定水平量（LX、LY），測量平面與平臺上表面間的傾斜。

　　設備（該設備沒有配備數(shù)字尺）或優(yōu)先設置/參數(shù)設定(preferences  set/parameter setup)時，設定測量位置輸入（Meas Posi imput），設定為[0]時，則需通過轉(zhuǎn)動微調(diào)盤輸入高度值，按[ENT]鍵確認。

　　注：●應輸入工件測點至平臺頂面之間的高度值。

　　● 用卡鉗（卡尺）測量截面輪廓高度。

　　⑦ 將探頭與第二個測量位置（測量輪廓）接觸。

　　⑧ 重復④~⑥步對2個截面輪廓進行測量。

　　⑨ 當兩個截面輪廓完成后，自動計算水平量并顯示。

　　4）多截面對中/水平測量。

　　測量以工件的兩個給定截面輪廓以同時確定其水平量（LX、LY）及對中量（CX、CY）。

　?、?按[CENTERING]鍵調(diào)出對中屏。

　　② 屏幕將顯示上一次對中條件，選擇并確定設定條件。 對應方法：水平+對中（兩個截面） 測量工件不同，對中條件不同。 改變設定條件，按[CHANGE]鍵。

　　注：開始測量前降低探測器直至探頭尖部與平臺頂面同高，對RA-114D型設備檢查輔助數(shù)字尺顯示應為0.003mm,如不是,按2.2.6節(jié)復位。

　?、?將探針與*個測量位置（測量輪廓）接觸。

　?、?旋轉(zhuǎn)平臺的同時，用探針筆進給手柄調(diào)整。

　?、?、⑥、⑦、⑧同上

　　⑩ 當完成兩個截面輪廓測量面后，系統(tǒng)自動計算水平量及對中量并顯示。

　　5）對中/水平多點測量

　　測量工件一截面輪廓上的多個點以確定對中量及水平量，此方法對采用開槽工件進行對應和校準有效。

　　① 按[CENTERING]鍵，調(diào)出對中屏。

　?、?屏幕將顯上一次對中條件，選擇并確定設定條件。 對應方法：多點 輸入點數(shù)：10點

　　測量工件不同，對中條件不同 改變設定條件，按[CHANGE]鍵。

　?、?使探頭與工件接觸。

　?、?轉(zhuǎn)動平臺的同時用進給旋扭調(diào)節(jié)探測器位置，使探頭擺動顯示在表的靈敏范圍內(nèi)，轉(zhuǎn)動微調(diào)盤進行微調(diào)后回零位。

　?、?按[START]鍵，開始測量。

　　⑥ 轉(zhuǎn)動平臺使探頭接觸*個測量位置后，按[ENT]鍵，見P3-18圖。“△”表示已完成的測量點（此處為5點）。

　?、?重復第⑥步已完成所需各點的測量。

　　⑧ 輸入*截面輪廓高度（Z值）或孤度（R值）。

　　⑨ 如進行多截面輪廓對中/水平測量，則將探頭移至第二截面輪廓上，重復步驟④~⑧。

　?、?當所有測量點完成輸入后，系統(tǒng)自動計算并顯示，對中量和水平量。